Vikipeedia:Nädala pildid/23 (2018)
Ilme
Aatomijõumikroskoopia on tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel. Aatomijõumikroskoopia kuulub skaneeriva teravikmikroskoopia perekonda.
Pildil on aatomijõumikroskoobi otsak.
Autor: Kertu Liis Krigul